1.製品名と型番：X線金属成分分析分光計X－1200シリーズ
2.メーカー：深セン市啓誠設備有限公司
3.製品画像：
4.仕事条件
n作業温度：15-30℃
n相対湿度：≤80%
n電源：AC：220 V±5 V
nパワー：300 W+550 W
5.技術性能と指標：
n元素の分析範囲はナトリウム（Na）からウラン（U）までです。
n元素含有量の分析範囲は1 ppmから100%である。
n測定時間：40-120秒。
n主含有量を複数回測定した場合、重複性は0.1%に達する。
n多準安定器は自動的に交換し、より多くの分析要求を満たす。
n検出器のエネルギー分解能は125である。±5 eV;
n温度適応範囲は15℃～30℃である。
n電源：交流220 V±5 V（交流浄化安定電源の配置を推奨します。）
n多変量非線形デコンボリューション曲線のフィッティング。
nガウス平滑フィルタ補正；
n高性能FPソフトウェア、MLSQ分析；
n一度に25の要素を同時に分析することができます。
n直接検出し、前処理が不要で、データがリアルタイムで表示される。操作が簡単で便利です。
三、製品の配置、機能、分析精度及び安定性
（一）製品構成：
1.ハードウェア：メインフレームの一つに、下記の主要部品が含まれています。
（1）X線管
（2）電気冷凍半導体検出器（SDD）
（3）高圧電源；
（4）コリメータ（コリメート自動交換）
（5）制御システム；
（6）フィルタ；
（7）サンプルテーブル；
（8）サンプルキャビティ195 mm*195 mm×50 mm
（9）計器の寸法は590*400*370 mmである。
（10）真空ポンプ/SMC真空電磁弁/真空圧力計など
2.ソフトウェア：啓誠X蛍光分光計成分分析ソフトV 6.0
3.コンピュータ一台：ブランド：連想
注：プリンタと電圧安定電源を選ぶ必要がある場合、価格は別途計算します。
（二）機能、分析精度及び安定性（銅合金を例とする）：
銅合金の成分分析；
また、マグネシウム合金、アルミニウム合金、鉄合金、鉛合金などの他の合金の分析も拡張できます。必要な時に必要な技術交流が必要です。
元素H，He，Li，Be，B，C，N，Oはしばらく解析できません。
分析精度と安定性：
1）F、Cl、Br、Iの検査（製品RoHSに対する測定要求事項）これらの元素の検出は1-3 pmmに制限されています。これらの金属テストの分析が安定している読み取りによって差は下記の基準に達しました。
A.検出含有量が5%以上の元素の安定した試験読取差は0.1%より小さい。
B.測定含有量が0.5～5%の元素で安定しているテスト読取差は0.05%より小さい。
C.測定含有量が0.1～0.5%の元素で安定しているテスト読取差は0.03%より小さい。
D.検出含有量が0.1%以下の元素のテスト読み取り変化率は10%以下である。
2）Cu、Zn、Fe、Ni、Pb、Mn、Ti、W、Au、Ag、Hg、Snなどの重金属含有量の検出は10～20 ppmに制限されています。これらの金属テストに対して安定した読み取り許容差は下記の基準に達しています。
A.検出含有量が5%以上の元素の安定した試験読取差は0.1%より小さい。
B.測定含有量が0.5～5%の元素で安定しているテスト読取差は0.05%より小さい。
C.測定含有量が0.1～0.5%の元素で安定しているテスト読取差は0.03%より小さい。
D.検出含有量が0.1%以下の元素のテスト読み取り変化率は10%以下である。
3）Mg、Al、Cr、Cd、P、Br、S、Si、Asなどの金属成分含有量の測定は30 ppmに制限されています。これらの金属テストの分析に対して安定した読み取り許容差は下記の基準に達しました。
A.検出含有量が5%以上の元素の安定した試験読取差は0.1%より小さい。
B.測定含有量が0.5～5%の元素で安定しているテスト読取差は0.05%より小さい。
C.測定含有量が0.1～0.5%の元素で安定しているテスト読取差は0.03%より小さい。
D.検出含有量が0.1%以下の元素のテスト読み取り変化率は10%以下である。
4）鉄鋼材料におけるC，S以外の元素分析。
5）分析サンプルの状態を測定できます。液体、固体、粉末です。
四、製品優勢及びソフトウェア説明
（一）.製品優勢
1.塩素、臭素イオン検査、金属イオン分析検査ができます。1機は省投資が多いです。
2.固体、液体、粉末の状態を検出できる材料
3.測定分析は60種類以上の元素があり、一回の検査で25種類の元素が銅、鉄、亜鉛、ステンレスなどの任意の基体に対して成分分析を行うことができます。
4.運行及び維持コストが低く、消耗品がなく、使用環境に対して相対的に要求が低い
5.未知のサンプルスキャン、無標識定性、半定量分析が可能です。
6.操作が簡単で、学びやすく、正確で無傷で、高品質、高性能、高安定性で、測定結果を迅速に出す（40-120秒）
7.お客様の個人化要求に応じてカスタマイズして、ハードウェアの構成を分析することができます。
8.ソフトは終身無料でアップグレードします。
9.独有特許が多く、海外先進国の同類設備に匹敵する。
10.非破壊検査、一度に購入したサンプルは永久に使用できます。
11.安心して安心して、アフターサービスの応答時間は24 H以内で、全方位の家政婦式サービスを提供します。
（二）ソフトウェア説明
1.計器の仕事原理説明
l XREFとはX線蛍光分光分析器（X Ray Fluorescence Spectromer）である。X線を物質に照射して発生する二次X線をX線蛍光といい、照射するX線を原級X線といいます。
l原子の内部層電子結合エネルギーよりもエネルギーが高い高エネルギーX線が原子と衝突すると，一つの内部層電子を駆逐して正孔が現れ，原子系全体を不安定な励起状態にし，励起状態原子寿命は約10−12〜14 Sであり，そして自発的にエネルギーの高い状態からエネルギーの低い状態に遷移する。
lより外側の層の電子が内部層の正孔に飛び込んで放出されるエネルギーは原子内で吸収されず，放射の形で放出されると，X線蛍光（特徴X線）が発生し，そのエネルギーは2準位間のエネルギー差に等しい。
l特性X線蛍光発生：衝突→遷移↑（高）→正孔→遷移↓（低）
l異なる元素からの特徴X線蛍光エネルギーと波長はそれぞれ異なるので、そのエネルギーまたは波長の測定によって、それがどのような元素から発せられたのかを知ることができ、元素の定性的分析を行う。線強度はこの元素の試料中の含有量と関係がありますので、その強度を測ると元素の定量分析ができます。
l実験によって検証し、一定の範囲内でめっき層が厚いほど、テストされたX蛍光の強度が大きくなります。しかし，めっき層の厚さが一定値に達すると，試験したX蛍光の強度は変化しなくなる。つまり、めっき層の厚さテストは限られています。厚すぎるめっきサンプルは無限厚とみなされます。
l X線は透過性があるため、多めっき層の分析において、それぞれの層の特徴X線は出射過程において互いに干渉を生じる。めっき層数が増加するにつれて、内部層に近いめっき層の検出誤差が大きくなる。また、外層めっき層は、内層めっき層の影響を受けるため、試験精度も大幅に低下します。多めっき層の影響を解決するために、実際の応用では、実際に近いめっきサンプルを用いて比較測定を行うことが多い（すなわち、標準曲線法を用いて比較テストを行う方法）。
2.ソフトウェア作業アーキテクチャ図
X－1200型分光計は現在の国際的に最も先進的なソフトウェアアルゴリズムを採用しており、基本パラメータ法（FP）は様々な種類の合金分析の中でより適応性が広い。啓誠会社はここ10年の開発と完備を経て、ソフトはすでに整った使用内容を備えました。
分光計とソフトウェアについて簡単に紹介します。
X-1200型分光計ソフトウェアアルゴリズムの主な処理方法
1）Smoothingスペクトル線の滑らかな処理
2）Escape Peak Removal逸脱ピーク除去
3）Sum Peak Removal重畳ピーク除去
4）Background Removal背景にチェックを付ける
5）Blank Removal空ピークビット除去
6）Intensity Extraction強度抽出
7）Peak Integrationスペクトル統合
8）Peak Overlap Factor Methodピーク重畳要因方法
9）Gaussian Deconvolutionガウスのデコンボリューション処理
10）Reference Deconvolution基準デコンボリューション処理
ソフトウェア開発の過程で、下記の文献（FP References）を参考にしました。
（A）“X線分光分析の原理と実践”第2版、E . P .ベルティン、プレナムプレス、ニューヨーク、ニューヨーク（1975）。
（b）Rによる定量蛍光X線分析の原理。テリアンとFクレイス、Heydenと息子社、ロンドン、英国（1982）。
（c）「X線分光分析法ハンドブック：方法と技術」、R . E . Van GriekenとA . Markowicz、Marcel Dekker、Inc .（ニューヨーク）。
（d）定量蛍光X線分析用X線管のスペクトル分布計算のための解析アルゴリズム。FengとJ . A .小、X線分光分析14（3）、125 - 135（1985）。
（e）X線管出力スペクトル分布の計算のためのNISTアルゴリズムに対するM及びL系列線の追加。FengとJ . A小型、X線分光分析20、109 - 110（1991）。
（f）基本パラメータ解析のための連続及び特性管スペクトルの定量化。エベル, J .Wernisch , Pone , H .Wiederschwinger，X線分光分析18，89‐100（1989）
（g）白色及び特性管スペクトルの記述アルゴリズム（11）≤ Z≤ 83 keV≤ E 0≤ 50 KeV」エベル,ウィーダーシュウェンガーとJ .Wernisch，X線解析の進歩35，721‐726（1992）
（h）基本パラメータ解析用透過陽極付きX線管のスペクトルエベル、M . F .エベル、ポー.シュコβマン，X線解析の進歩35，721‐726（1992）
I）X線管スペクトルの種々の記述の比較。シュコβマンウィーダーシュウィンガーエベルとJ .Wernisch，X線分析の進歩39，127‐135（1992）
（j）「k，l及びm殻x線線の相対強度」t . p . schreiber＆a . m . wims，x線分光分析11（2），42（1982）。
（k）k及びl殻のx線蛍光断面積の計算，m . krause，e . ricci，c . j . sparks，c . w . nestor，ad . X線解析，21，119（1978）。
(株) X線データ小冊子X線光学研究センターボーン、LBL、カリフォルニア大学、バークリー、CA 94720（1986）。
（m）「質量減衰係数の補正表」，科学的なクレイス社，7，1301（1977）。
（k）k及びl殻の原子放射及び無放射収量。物理化学物質参考資料8（2），307−327（1979）
（o）「電子マイクロプローブ」，D .マッキンリー，K . F . J . Heinrich and D . B Wittry，Wiley，ニューヨーク（1966）
（p）「X線断面積のコンパイル」、UCRL - 50174 SEC II、REV。1、ロレンス放射線研究所、カリフォルニア大学、リバモア、CA（1969）。
（q）「X線相互作用：e＝50〜30000 eV，z＝1〜92，b . l .ヘンケ，E . M . Gullikson，J . C .デービス，原子データ及び核表，54，181−342（1993））での光吸収、散乱、透過及び反射。
（r）X線原子エネルギーレベルの再評価，J . A . Bearden及びA . F . Burr，Revmod。物理学、39（1）、125 - 142（1967）。
蛍光収量ώK ( 12 )≤ Z≤ 42）ώL 3 ( 38 )≤ Z≤ 79）文献と実験の比較から。ハンケ, JWernischとCPOHN X線分光分析14（1），43（1985）
（t）z（11）の関数としての定量的X線分析のための基本パラメータの最小二乗フィット≤ Z≤ 83 )およびe ( 1 )≤ エ≤ 「50 keV」、「c」。ポーン, J .WernischとWハンケ、X線分光分析14（3）、120（1985）。
（u）バルク及び多層試料からのx線蛍光強度の計算，d . k . de boer，x線分光計19，145〜154（1990）。
（V）蛍光X線による膜厚測定の理論式。白和富士重工業(株) X線解析第12 , 446 ( 1969 )
（w）多層膜の蛍光X線分析。Mantler、Analytica chimica ACTA、188、25 - 35（1986）。
（x）基本的なパラメータに基づく定量的エネルギー分散蛍光X線分析のための一般的方法。彼とP . JバンEspen、肛門。Chee , 63 , 2237 - 2244 ( 1991 )
（Y）単一及び多層薄膜の定量的蛍光X線分析薄膜157，283（1988）
（z）「単色X線源による定量的元素分析のための基本的なパラメータ法」、デンバー（デンバー）（デンバー）の第25の年次デンバーX線会議で発表されます。
3.ソフトウェアインターフェース
1）スペクトル画面
スペクトル界面は任意にサイズを調整でき、研究開発中のブラインドサンプル分析時に各種元素の探索に便利です。
パラメータ設定画面
できるだけ多くのパラメータ設定ウィンドウが含まれています。使用者、特に研究開発者はソフトウェアと分析結果の状態についてよく知っています。
